2025年11月，中国电子元件行业协会发布《电容器老化状态评价技术规范》，将温升作为老化状态核心指标。温升老化在加速寿命试验中，传统恒温老化忽略实际运行中的温度波动，导致寿命预测偏差。
广州智品汇电子科技针对
温升老化检测设备电容器、电阻器、功率模块设计，温度循环范围-40℃~150℃，配备Arrhenius模型加速因子计算与剩余寿命预测模块，支持不同老化机理（热老化/电老化/热-电联合老化）的模拟。设备依据GB/T 34986-2024《产品加速试验方法》老化扩展条款设计。 作为源头工厂，广州智品汇电子科技全链路定制老化方案，精准匹配行业需求，为电子元件加速寿命评估与状态检修决策提供数据支撑。
