广州智品汇电子科技 ZHWS-2 连接器热循环温升测试台,用于连接器失效分析试验,复现连接器在热循环、通电应力耦合作用下的老化失效过程。
设备可精准捕捉温升突变、接触电阻异常节点,帮助工程师定位端子虚接、镀层磨损、接触失效等问题根源,为产品结构优化、生产工艺整改提供量化试验数据,广泛用于连接器企业可靠性试验室。